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El Consejo Europeo de Investigación (ERC, por sus siglas en inglés) cumplió 10 años el 24 de marzo de 2017. A lo largo de esta década de vida, se ha financiado a unos 7.000 investigadores, permitiendo la publicación de cerca de 100.000 artículos en revistas científicas internacionales. En España, cerca de 400 investigadores han recibido un total de 650 millones de euros y el Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) destaca por ser la institución española con mayor número de ayudas, por delante de la Universidad Pompeu Fabra, el Instituto de Ciencias Fotónicas, la Universidad de Barcelona y el Centro de Regulación Genómica. Entre los más de 400 proyectos que han obtenido una ayuda del Consejo Europeo de Investigación en España, más de un centenar han recaído en el CSIC.

CSIC - Reunión de directores - julio 2017

Intervención del presidente del CSIC en la reunión de directores, el 1 de julio de 2015.

Reunión de directores de centros del Consejo Superior de Investigaciones Científicas, en diciembre de 2014.

Intervención de Emilio Lora-Tamayo en la reunión de directores del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), en junio de 2014.

Pepa Fernández, del programa 'No es un día cualquiera' de RNE, entrevista al presidente del CSIC, Emilio Lora-Tamayo. El programa se emitió desde el salón de actos de la sede central del CSIC en Madrid.

El Congreso de los Diputados ha acogido uno de los actos de conmemoración de los 75 años del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). Han presidido el acto Emilio Lora-Tamayo, presidente del CSIC, y Jesús Posada, presidente del Congreso. También han intervenido el diputado por Tarragona y portavoz de la Comisión de Economía y Competitividad, Alejandro Fernández, y el senador electo por Mallorca, José Antonio Manchado.

Los reyes han presidido el acto conmemorativo de la creación del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), el mayor organismo científico de España. El Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) cumple 75 años. Fue creado el 24 de noviembre de 1939. En la actualidad el CSIC es la mayor institución pública dedicada a la investigación en España y la tercera de Europa. Adscrita al Ministerio de Economía y Competitividad a través de la Secretaría de Estado de Investigación, Desarrollo e Innovación, su principal objetivo es desarrollar y promover investigaciones en beneficio del progreso científico y tecnológico, y para ello colabora con entidades españolas y extranjeras.

Los investigadores del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) que participan en la campaña Antártica conversan con el presidente del CSIC, Elimio Lora-Tamayo. El Jefe de la base Juan Carlos I, Jordi Felipe, y el investigador del CSIC Jordi Dachs cuentan cómo se está desarrollando la actividad científica y cómo se viven estas fechas en la Antártida.

Intervención del Presidente del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) en la reunión de directores del 19 de Diciembre de 2013.

El Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Banco Santander, a través de su División Global Santander Universidades, y la Fundación General CSIC han presentado los resultados de los Proyectos Cero sobre Especies Amenazadas. Han asistido al acto el presidente del CSIC, Emilio Lora-Tamayo, el presidente de Banco Santander, Emilio Botín, y el director general de la Fundación General CSIC, Miguel García Guerrero.

Un nuevo probiótico, denominado Bifidobaterium longum ES-1, ha demostrado aportar protección a los individuos celíacos, reduciendo los marcadores de inflamación y contribuyendo a restablecer las alteraciones de su microflora intestinal. Esta cepa Bifidobacterium longum ES-1es una bacteria probiótica protegida por una patente mundial que fue seleccionada expresamente para la enfermedad celíaca a través de numerosos estudios de investigación publicados en revistas internacionales. Su objetivo NO es SUSTITUIR la dieta sin gluten, sino complementarla con el fin de mejorar la recuperación de los celíacos y aportar un mayor grado de protección a la mucosa intestinal. Concretamente, en un estudio de intervención doble-ciego y controlado por placebo en celíacos recién diagnosticados que iniciaban la dieta sin gluten se ha observado que el probiótico reduce los parámetros inflamatorios y modifica favorablemente la flora intestinal. Si bien estos avances pueden contribuir a mejorar la calidad de vida y el estado de salud de los celíacos, se recuerda la importancia de que este colectivo mantenga una dieta exenta de gluten.

Reunión de directores. 29 de noviembre de 2012

Arrays of ferromagnetic circular dots (with diameters ranging from 225 to 420 nm) have been prepared at the surface of atomically ordered paramagnetic Fe60Al40 (at. %) sheets by means of ion irradiation through prelithographed poly(methyl methacrylate) (PMMA) masks. The cumulative effects of consecutive ion irradiation (using Ar+ ions at 1.2 × 1014 ions/cm2 with 10, 13, 16, 19 and 22 keV incident energies) on the properties of the patterned dots have been investigated. A progressive increase in the overall magneto-optical Kerr signal is observed for increasingly larger irradiation energies, an effect which is ascribed to accumulation of atomic disorder. Conversely, the coercivity, HC, shows a maximum after irradiating at 16–19 keV and it decreases for larger irradiation energies. Such a decrease in HC is ascribed to the formation of vortex states during magnetization reversal, in agreement with results obtained from micromagnetic simulations. At the same time, the PMMA layer, with an initial thickness of 90 nm, becomes progressively thinned during the successive irradiation processes. After irradiation at 22 keV, the remaining PMMA layer is too thin to stop the incoming ions and, consequently, ferromagnetism starts to be generated underneath the nominally masked areas. These experimental results are in agreement with calculations using the Monte-Carlo simulation Stopping Range of Ions in Matter software, which show that for exceedingly thin PMMA layers Ar+ ions can reach the Fe60Al40 layer despite the presence of the mask.

El objetivo de este libro es divulgar las técnicas más utilizadas para fabricar microsistemas basados en silicio. La novedad que aporta este trabajo es describir y mostrar detalladamente el proceso de fabricación de un Microsistema en una Sala Blanca. En la primera parte del libro se hace una introducción teórica a los acelerómetros en general y a los acelerómetros piezorresistivos en particular. En la segunda parte se muestra día a día su proceso de fabricación, en el "Diario del proceso". Para una mayor compresión, esta segunda parte se refuerza con un conjunto de videos, en los cuales se muestran las etapas más importantes en el proceso de fabricación de microacelerómetros.

A technology to address massive and batch fabrication of carbon nanotube field effect transistors (CNT-FET) based systems at wafer level is presented. In order to demonstrate the feasibility of the technology, we have designed, fabricated, tested and evaluated a CNT-FET based monitor chip. The monitor chip is composed of 16 different in design CNT-FET structures. In total, each monitor chip contains 5760 devices. Each wafer is composed of 24 monitor chips. Evaluation of the data obtained through automatic test procedures gives evidence of the fabrication of more than 10,000 functional CNT-FET on a 4 inch wafer. A yield of functional CNT-FET of 27% has been achieved for optimal designs.

We report on the specialised characterization of the local electron beam irradiation of carbon nanotube (CNT) based devices motivated by previous studies on device electrical characteristics. In particular, Kelvin probe force microscopy provides surface potential description of the device under exposure. The experimental characterization is complemented with 3-dimensional electric field modelling of the devices using finite element methods. The modelling includes the effect of electron charging and AFM tip potential. Comparison of simulation and experiments shows good agreement and contributes to assess the distortion of electrical characteristics of CNT based devices under electron beam irradiation. © 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.

A good detection of NO2, CO and toluene at low concentrations has been carried out by using a micromachined gas sensor array composed of three devices working at different temperatures. The structure is fabricated using standard microelectronic technologies and tin oxide layers as sensitive material. The total power consumption of the array is in the range of 150 mW and a good uniformity of temperature is achieved, thanks to a silicon plug placed under the active area of each sensor. With this device type, it is possible to discriminate gases in a mixture when each array microsensor is heated at a proper temperature.

Acelerómetro triaxial que combina en su fabricación tecnologías de micro mecanización en volumen de silicio con tecnologías de micro mecanización superficial, utilizando obleas tipo BESOI (Bond and Etch Back Silicon On Insulator), y con una estructura que consiste en dos masas unidas por uno o varios puentes entre si y cada una de las cuales unidas al marco del dispositivo por dos puentes exteriores, colocando piezoresistencias en los puentes centrales y exteriores que formen un puente de Wheatstone, y siendo los puentes exteriores perpendiculares a los dos puentes que unen las masas. Aplicaciones en medicina, navegación y campos relacionados.

Método no destructivo para la determinación de la calidad de la soldadura anódica y mejora de contactos (ver figura en archivo de texto adjunto). Con este método, la muestra testeada queda intacta para su posterior uso. Al aumentar la temperatura en la soldadura, los iones producidos de uno de los materiales a soldar, quedan dotados de una movilidad suficiente para que cuando se aplique la diferencia de potencial entre estos materiales, se alejen de la superficie. Al ser atraídos por el electrodo negativo, se crea una capa de vaciado en la superficie que genera una atracción electrostático enorme, entrando en contacto y soldándose. Al aumentar la presión electrostática una mayor área de los dos materiales entra en contacto y la soldadura será mejor. Se realiza un test haciendo cavidades con profundidades muy controladas sobre una de las dos superficies a soldar, preferentemente sobre el metal o semiconductor. Se utiliza un electrodo de estrella que impide la formación de burbujas por atrapamiento de aire.

Placa homogeneizadora de temperatura para microdispositivos térmicamente aislados (ver figura en archivo de texto adjunto). El objeto de la presente invención es el desarrollo de una microestructura térmicamente aislada con zonas de temperatura muy homogénea y controlada. Dichas estructuras son la base de distintos tipos de sensores microelectrónicos ya existentes, en los que un cierto material o elemento sensible se deposita sobre una estructura térmica que debe trabajar a una temperatura conocida. Es aplicable a sistemas de medida microelectrónica basados en microsensores de silicio.

Medidor de caudal de elemento estrangulador con microsensor de presión incorporado (ver figura en archivo de texto adjunto). Está basado en la medida de la presión diferencial existente entre la entrada y la salida de un elemento estrangulador de flujo, mediante un microsensor de presión incorporado en el mismo elemento. La ventaja principal que presenta el nuevo medidor consiste en la integración de diversos elementos en un único dispositivo, a diferencia de los medidores convencionales que consisten en un elemento primario que crea la diferencia de presión y uno secundario que mide dicha presión. Como consecuencia de la integración de los distintos elementos, el nuevo dispositivo se monta fácilmente en la tubería haciendo innecesaria la utilización de tuberías adicionales y/o válvulas entre los dispositivos primario y secundario.

Estructura de test para la medida del desalineamiento entre niveles en tecnologías microelectrónicas, basada en transistores MOS con puerta triangular (ver figura en archivo de taxto adjunto). La estructura de test para la medida del desalineamiento entre niveles de tecnologías microeléctricas, basada en transistores MOS con puerta triangular, es un dispositivo microelectrónico compuesto de cuatro transistores MOS con la puerta triangular, dispuestos formando 90º entre sí, con los terminales de fuente unidos, sensible al desalineamiento entre los niveles de puerta y áreas activas en tecnologías autoalineadas. El desalineamiento se obtiene a partir de la medida de la corriente de canal en cada uno de los transistores, polarizando los mismos en la zona lineal o en la de saturación.