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The residual contrast arising in dark-field micrographs when g · b = 0 can be used for determining the nature of prismatic dislocation loops as a function of the parameter m. Experimentally it is shown that in this case the contrast sign is unambiquously determined by the relative orientation of g and b and is independent of the depth position of the dislocation. The dislocation loop type can be derived from the sign of the contrast in the positive direction of the diffraction vector; for a vacancy loop the outer bands of the are must be bright, for an interstitial loop — dark. The best results when using the recommended technique can be obtained for edge loops normal to the electron beam. Besides, the nature of the loops lying in inclined planes can also be analyzed. The kinematic effects in thin crystals at noticeable deviation from the exact Bragg position can result in errors in determining the loop nature. Der Restkontrast, der in den Dunkelfeldmikrographien fur den Fall g · b = 0 auftritt, kann zur Bestimmung der Natur der prismatischen Versetzungsschleifen als Funktion des Parameters m benutzt werden. Es wird experimentell gezeigt, das in diesem Falle das Vorzeichen des Kontrasts eindeutig durch die relative Orientierung von g und b bestimmt wird und unabhangig von der Tiefe der Versetzung ist. Der Type der Versetzungsschleife kann aus dem Vorzeichen des Kontrasts in der positiven Richtung des Beugungsvektors bestimmt werden; fur eine Leerstellenschleife mussen die auseren Bander des Bogens hell, fur eine Zwischongitterplatzschleife — dunkel sein. Die besten Ergebnisse mit der empfohlenen Technik werden fur Stufenschleifen senkrecht zum Elektronenstrahl erhalten. Daruber hinaus kann die Natur der Schleifen auf geneigten Ebenen ebenfalls analysiert werden. Der kinematische Effekt in dunnen Kristallen bei betrachtlicher Abweichung von der exakten Bragglage kann zu Fehlern bei der Bestimmung der Schleifennatur fuhren.