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2. Berechnung der auftretenden lokalen Kräfte auf der magnetischen Beschichtung eines magnetischen Rasterkraftmikroskops [Computation of the occurring local forces on the magnetic coating of a magnetic atomic force microscope]
3. Modellierung des Elektrischen Feldes für Anordnungen mit Singularitäten [Modeling of the electric field for configurations with singularities]
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