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1. Modellierung des elektrischen Feldes für Anordnungen mit Singularitäten.

2. Berechnung der auftretenden lokalen Kräfte auf der magnetischen Beschichtung eines magnetischen Rasterkraftmikroskops [Computation of the occurring local forces on the magnetic coating of a magnetic atomic force microscope]

3. Modellierung des Elektrischen Feldes für Anordnungen mit Singularitäten [Modeling of the electric field for configurations with singularities]