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In dieser Arbeit wird ein Modell vorgestellt, welches für die Simulation speckle-interferometrischer Messaufbauten konzipiert und optimiert ist. Durch eine besondere Kombination von geometrischer Optik und Wellenoptik bietet es kurze Simulationszeiten, hohe Flexibilität durch eine Vielzahl einstellbarer Parameter für unterschiedlichste Untersuchungen und gute Übereinstimmung zwischen Simulationsergebnissen, Theorie und Praxis. Weiterhin wird ein Speckle-Interferometer zur Formvermessung technischer Oberflächen präsentiert, welches in einigen wichtigen Bereichen mittels der Simulationen konzipiert wurde. Es zeichnet sich durch besondere Eigenschaften wie Erschütterungsunempfindlichkeit, kurze Messzeiten und Kompaktheit aus. In this thesis, a model is presented which is designed and optimized for the simulation of speckle-interferometrical measurement systems. Through a special combination of geometrical optics and physical optics, it offers short simulation times, high flexibility through a great number of variable parameters for most different studies and good agreement between simulation results, theory and practice. Furthermore a speckle interferometer for the shape measurement of technical surfaces is presented that has been optimized concerning in some important aspects by means of simulations. The setup is characterized by special features as vibration insensitivity, short measurement periods and compactness.

Methoden zum Erfassen der 31)-Form von Objekten sind seit vielen Jahren bekannt. In verschiedenen Anwendungen ist es jedoch notwendig, die Objektform und -farbe komplex geformter Objekte vollständig zu erfassen. Die Verwendung von Farbkameras hat den Nachteil niedriger Auflösung, niedriger Bildraten und kann Formmessfehler verursachen. Die hier vorgestellte Messmethode ermöglicht die simultane Erfassung von Form und Farbe unter ausschließlicher Verwendung von Monochromkameras.