13 results on '"Bosseboeuf A"'
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2. Mesure de la conductivité thermique de nanofils de silicium, fortement dopés de type p, fabriqués par approche descendante, par la méthode 3 oméga
3. Système de flexion 4 points de puce semiconductrice pour une station sous pointes cryogénique
4. Mesure de la conductivité thermique de nanofils de silicium, fortement dopés de type p, fabriqués par approche descendante, par la méthode 3 oméga
5. Système de flexion 4 points de puce semiconductrice pour une station sous pointes cryogénique
6. Les paradoxes liés à la mise en oeuvre des dispositions relatives à l’appellation Musée de France
7. Conclusion
8. Introduction
9. Interference Microscopy Techniques for Microsystem Characterization
10. Experimental Techniques for Damping Characterization of Micro and Nanostructures
11. Interference Microscopy Techniques for Microsystem Characterization
12. Application of the Blister Test to Adhesion Energy Measurements in Metal/Ceramic Film-on-Substrate Systems
13. Comparison of Techniques for Fringe Pattern Background Evaluation
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