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Eells, J., Elworthy, K. D., and Prodi, G., editor

Eells, J. T., Watabe, S., Ogata, N., Narahashi, T., Costa, Lucio G., editor, Galli, Corrado L., editor, and Murphy, Sheldon D., editor

Baird, P., Eells, J., Looijenga, E., editor, Siersma, D., editor, and Takens, F., editor

Atiyah, M. F., Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Smale, S., Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Earle, Clifford J., Eells, James, Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Treves, F., Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Hörmander, Lars, Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Rickart, C. E., Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Wermer, John, Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Hoffman, Kenneth, Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor

Rossi, Hugo, Dold, A., editor, Eckmann, B., editor, Atiyah, M. F., Eells, J., Hoffman, K. M., Hörmander, L., Rickart, C. E., Rossi, H., Smale, S., Treves, F., Wermer, J., and Taam, C. T., editor