1. Applied TRL Calibration Method to Differential Devices Ebedded in a Test Board
- Author
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Philippe Descamps, Kassem Hamze, Daniel Pasquet, Edouard De Ledinghen, Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC), Laboratoire de Microélectronique et de Physique des Semiconducteurs (LaMIPS), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-NXP Semiconductors [France]-Presto Engineering Europe, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Presto Engineering Europe, Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-NXP Semiconductors [France]-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Presto Engineering Europe (FRANCE)
- Subjects
Standards ,TRL ,Test board ,Calibration (statistics) ,Computer science ,Wireless communication ,Pins ,Microwave theory and techniques ,Electronic engineering ,[CHIM.CRIS]Chemical Sciences/Cristallography ,Wireless ,[CHIM]Chemical Sciences ,Network analyzers ,Differential (infinitesimal) ,DUT ,ComputingMilieux_MISCELLANEOUS ,business.industry ,[CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry ,[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics ,Transmission line matrix methods ,[CHIM.THEO]Chemical Sciences/Theoretical and/or physical chemistry ,Network analysers ,Calibration ,business ,Differentiat - Abstract
International audience; This paper shows the VNA calibration for a DUT with a differential input and a single output embedded into a measurement board. Simulations have validated the concept. © 2019 IEEE.
- Published
- 2019
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