WILLIAM H. FLANK, THADDEUS E. WHYTE, George T. Kerr, J. B.Nagy, E. G. Derouane, L. B. Welsh, S. L. Lambert, P. S. Iyer, J. Scherzer, Z. C. Mester, Jacques C. Vedrine, Gisèle Coudurier, Bernard F. Mentzen, V. A. Maroni, K. A. Martin, S. A. Johnson, A. Macedo, A. Auroux, F. Raatz, E. Jacquinot, R. Boulet, A. Janin, J. C. Lavalley, Mark D. Baker, John Godber, Geoffrey A. Ozin, Michael W. Anderson, Larry Kevan, J. M. Bennett, Nam Ho Heo, Karl Seff, W. J. Mortier, D. E. W. Vaughan, J. M. Newsam, D. Packet, R. A. Schoonheydt, A. V. McCormick, A. T. Bell, C. J. Radke, Robert A. Van Nordstrand, Don S. Santilli, Stacey I. Zones, M. L. Occelli, G. P. Ritz, J. V. Sanders, D. T. Hayhurst, R. Aiello, F. Crea, G. Giordano, A. Nastro, J. C. Lee, R. M. Carland, F. F. Aplan, C. P. Kelkar, A. Schutz, G. Marcelin, Henry C. Foley, Douglas M. Ruthven, Mladen Eic, J. Kärger, H. Pfeifer, I. M. Galabova, G. A. Haralampiev, Dhananjai B. Shah, Ephraim Kehat, Joseph Berkovici, Aluf Orell, Chen Li-feng, Lovat V. C. Rees, Y. S. Lin, Yi Hua Ma, N. Y. Chen, C. G. Coe, S. M. Kuznicki, R. S, WILLIAM H. FLANK, THADDEUS E. WHYTE, George T. Kerr, J. B.Nagy, E. G. Derouane, L. B. Welsh, S. L. Lambert, P. S. Iyer, J. Scherzer, Z. C. Mester, Jacques C. Vedrine, Gisèle Coudurier, Bernard F. Mentzen, V. A. Maroni, K. A. Martin, S. A. Johnson, A. Macedo, A. Auroux, F. Raatz, E. Jacquinot, R. Boulet, A. Janin, J. C. Lavalley, Mark D. Baker, John Godber, Geoffrey A. Ozin, Michael W. Anderson, Larry Kevan, J. M. Bennett, Nam Ho Heo, Karl Seff, W. J. Mortier, D. E. W. Vaughan, J. M. Newsam, D. Packet, R. A. Schoonheydt, A. V. McCormick, A. T. Bell, C. J. Radke, Robert A. Van Nordstrand, Don S. Santilli, Stacey I. Zones, M. L. Occelli, G. P. Ritz, J. V. Sanders, D. T. Hayhurst, R. Aiello, F. Crea, G. Giordano, A. Nastro, J. C. Lee, R. M. Carland, F. F. Aplan, C. P. Kelkar, A. Schutz, G. Marcelin, Henry C. Foley, Douglas M. Ruthven, Mladen Eic, J. Kärger, H. Pfeifer, I. M. Galabova, G. A. Haralampiev, Dhananjai B. Shah, Ephraim Kehat, Joseph Berkovici, Aluf Orell, Chen Li-feng, Lovat V. C. Rees, Y. S. Lin, Yi Hua Ma, N. Y. Chen, C. G. Coe, S. M. Kuznicki, and R. S