Dbeiss, Mouhannad, Avenas, Yvan, ZARA, Henri, Dupont, Laurent, Garcia, Sylvie, Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Institut National de L'Energie Solaire (INES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE), École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM), and HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
International audience; This paper presents a new method for in-situ condition monitoring of semi-conductor devices, in photovoltaic DC/AC inverters. It consists on measuring the voltage drop across the Collector-Emitter junction, the dynamic resistance and the thermal impedance of each device. Using this method, the monitoring can be done without disconnecting the driv-ers, neither the DC-link capacitors, nor the DC-link bus. Moreover, the condition monitoring is done under the actual DC-link voltage, hence there is no need for an independent current source. This method was tested in an accelerated ageing test bench, and validated by comparison with classical measurement tests. In addition, examples of condition monitoring implementation in DC/AC photovoltaic inverters are finally proposed.