Emission and immunity tests in anechoic chamber

Authors :: Demoulin, B.
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN)
Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Ben Dhia S.
Ramdani M.
Sicard E.
Source :: Electromagnetic compatibility of integrated circuits circuits-Techniques for low emission and susceptibility, Ben Dhia S., Ramdani M., Sicard E. Electromagnetic compatibility of integrated circuits circuits-Techniques for low emission and susceptibility, Springer US, pp.167-177, 2006
Publication Year :: 2006
Publisher :: HAL CCSD, 2006.
Abstract: ISBN 978-0-387-26600-8

Language :: English
Database :: OpenAIRE
Journal :: Electromagnetic compatibility of integrated circuits circuits-Techniques for low emission and susceptibility, Ben Dhia S., Ramdani M., Sicard E. Electromagnetic compatibility of integrated circuits circuits-Techniques for low emission and susceptibility, Springer US, pp.167-177, 2006
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..535ad6021195bea7ea3549d31afa87d5