Toward non destructive high resolution thermal methods for electric charge measurements in solid dielectrics and components

Authors :: Notingher, P.
Hole, S.
Baudon, S.
Fuchier, O.
Boyer, L.
Agnel, S.
Institut d’Electronique et des Systèmes (IES)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Groupe énergie et matériaux (GEM)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire des Instruments et Systèmes d'Ile de France (LISIF)
Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)
Eric, Dauverchain
Source :: ESA2012-Electrostatics Joint Conference, ESA2012-Electrostatics Joint Conference, 2012, Cambridge, Canada
Publication Year :: 2012
Publisher :: HAL CCSD, 2012.
Abstract: International audience

Subjects :: [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

Language :: English
Database :: OpenAIRE
Journal :: ESA2012-Electrostatics Joint Conference, ESA2012-Electrostatics Joint Conference, 2012, Cambridge, Canada
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..557a66869996e3be17fe8b5cf6f8ce7e

Tools