Détection de Défauts par Thermographie Infrarouge avec un Nouveau Système d’Excitation Micro-ondes

Authors :: Keo, Sam Ang
Brachelet, Franck
Defer, Didier
Breaban, Florin
Laboratoire de Génie Civil et Génie Mécanique (LGCGM)
Université de Rennes 1 (UR1)
Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)
Financement de thèse de doctorat
Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)
Source :: Spectra Analyse, Spectra Analyse, PCI, 2014, http://www.pcipresse.com/product.php?id_product=693, Spectra Analyse, 2014, 297, http://www.pcipresse.com/product.php?id_product=693
Publication Year :: 2014
Publisher :: HAL CCSD, 2014.
Abstract: National audience

Subjects :: [SPI]Engineering Sciences [physics]
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS

Language :: French
ISSN :: 1635947X and 25560050
Database :: OpenAIRE
Journal :: Spectra Analyse, Spectra Analyse, PCI, 2014, http://www.pcipresse.com/product.php?id_product=693, Spectra Analyse, 2014, 297, http://www.pcipresse.com/product.php?id_product=693
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..9e635f0f53777cd59a7bb8e4f34791d8

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