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Berichtigung: Identifikation sekundärer Bindestellen auf DC‐SIGN mithilfe eines Fragment‐Screenings

Authors :
Viktor A. Zapol'skii
Robert Wawrzinek
Hannes Baukmann
Dieter E. Kaufmann
Elena Shanina
Jonas Hanske
Peter H. Seeberger
Jonas Aretz
Christoph Rademacher
Source :
Angewandte Chemie. 129:12570-12570
Publication Year :
2017
Publisher :
Wiley, 2017.

Details

ISSN :
15213757 and 00448249
Volume :
129
Database :
OpenAIRE
Journal :
Angewandte Chemie
Accession number :
edsair.doi...........77ca83a717a9a9a0b2dd55001b32e981
Full Text :
https://doi.org/10.1002/ange.201708597