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Reflektometrie mit Synchrotronstrahlung

Authors :
Krumrey, Michael
Cibik, Levent
Fischer, Andreas
Gottwald, Alexander
Kroth, Udo
Scholze, Frank
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Publication Year :
2014
Publisher :
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), 2014.

Abstract

PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 3, Seite 35 - 41. ISSN 0030-834X

Subjects

Subjects :
Reflektometrie
EUV-Strahlung
VUV-Strahlung
Nanoschichten
Röntgenstrahlung
Avogadro-Konstante
UV-Strahlung
optische Konstanten
Polarisation

Details

Language :
German
ISSN :
0030834X
Database :
OpenAIRE
Accession number :
edsair.doi.dedup.....8de2907acb6aee0e4c8caead81b7b7de
Full Text :
https://doi.org/10.7795/310.20140307
Full Text Access
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