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Electrical diagnostics of high voltage devices via high resolution near field analysis

Authors :
Lionel Duvillaret
Guillaume Revillod
Gwenaël Gaborit
Christian Pons
Laurane Gillette
Erwan Dumont
Jean Dahdah
Christophe Volat
Emmanuel Bic
Laura Giannini
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC )
Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
Kapteos SAS
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) (FEMTO-ST)
Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques (ENSMM)-Université de Franche-Comté (UFC)
Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :
2016 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC), 2016 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC), Jun 2016, Montreal, Canada. pp.555-558
Publication Year :
2016
Publisher :
IEEE, 2016.

Abstract

We here present our latest developments concerning an optical pigtailed electric field sensor dedicated to the monitoring and the analysis of medium and high voltage devices. This non invasive sensor allow to perform safely the electric field vectorial characterization in the closest vicinity of a device under test. The realized optical probe demonstrates here its potentialities for the diagnostic of a 25 kV monoconductor cable and is also exploited to analyse a default on a 100 kV insulator.

Details

Database :
OpenAIRE
Journal :
2016 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC)
Accession number :
edsair.doi.dedup.....a9ce9fc5005d24fd68a18fd61e0a5590
Full Text :
https://doi.org/10.1109/eic.2016.7548663