Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

Authors :: Jing Guo Zhao
Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Source :: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP), Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP), instacron:UNICAMP
Publication Year :: 2003
Abstract: Orientador: Vitor Baranauskas Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação Doutorado

Subjects :: Topografia
Filmes finos
Microscopia de força atômica
Ciência dos materiais

Language :: Portuguese
Database :: OpenAIRE
Journal :: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP), Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP), instacron:UNICAMP
Accession number :: edsair.doi.dedup.....d0c33a3319ffd7a30e347f3cd643af78

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