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Applied TRL Calibration Method to Differential Devices Ebedded in a Test Board

Authors :
Philippe Descamps
Kassem Hamze
Daniel Pasquet
Edouard De Ledinghen
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT)
École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN)
Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN)
Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC)
Laboratoire de Microélectronique et de Physique des Semiconducteurs (LaMIPS)
Université de Caen Normandie (UNICAEN)
Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN)
Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA)
Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN)
Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-NXP Semiconductors [France]-Presto Engineering Europe
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Presto Engineering Europe
Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-NXP Semiconductors [France]-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN)
Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Presto Engineering Europe (FRANCE)
Source :
Radio and Wireless Symposium, Radio and Wireless Symposium, Jan 2019, Orlando, United States, 2019 IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2019, 2019 IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2019, Jan 2019, Florida, United States. pp.8714439, ⟨10.1109/RWS.2019.8714439⟩, Radio and Wireless Symposium, Jan 2019, Orlando, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/RWS.2019.8714439⟩, RWS
Publication Year :
2019
Publisher :
HAL CCSD, 2019.

Abstract

International audience; This paper shows the VNA calibration for a DUT with a differential input and a single output embedded into a measurement board. Simulations have validated the concept. © 2019 IEEE.

Details

Language :
English
Database :
OpenAIRE
Journal :
Radio and Wireless Symposium, Radio and Wireless Symposium, Jan 2019, Orlando, United States, 2019 IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2019, 2019 IEEE Radio and Wireless Symposium, RWS 2019, Jan 2019, Florida, United States. pp.8714439, ⟨10.1109/RWS.2019.8714439⟩, Radio and Wireless Symposium, Jan 2019, Orlando, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/RWS.2019.8714439⟩, RWS
Accession number :
edsair.doi.dedup.....da4153e752faedab97d824bc9cc6e06c
Full Text :
https://doi.org/10.1109/RWS.2019.8714439⟩