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La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit

Authors :
Marc, François
Bestory, Corinne
Levi, Herve
Danto, Yves
Import, Ims
Publication Year :
2006
Publisher :
HAL CCSD, 2006.

Subjects

Subjects :
[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Details

Language :
French
Database :
OpenAIRE
Accession number :
edsair.od.......166..a2429be560bbd561d8aff1d7f092cb90

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Authors Abstract Subjects Details