基于光谱的40μm保偏光纤参数测量方法

由于基于40μm保偏光纤的商用光纤器件制作技术和保偏熔接技术尚不成熟,一般的保偏光纤参数测量方法很难直接应用。文章提出在1根40μm保偏光纤上完成超辐射发光二极管（SLD）耦合对接和光纤偏振器在线制作,构建出一套简单的偏光干涉装置,利用调制光谱可同时实现拍长和双折射温度系数的测量。文章分别从理论和实验上对测量方法进行了阐述和验证。所提方法同样适用于其他直径的保偏光纤参数测量。