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Short remarks about synthetic image generation in the context of sub-pixel accuracy of Digital Image Correlation
Authors :
Multi-échelle ; Laboratoire de mécanique des solides (LMS) ; CNRS - Polytechnique - X - MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris - CNRS - Polytechnique - X - MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris - Laboratoire Navier (NAVIER) ; CNRS - École des Ponts ParisTech (ENPC) - IFSTTAR - Université Paris Est (UPE) - CNRS - École des Ponts ParisTech (ENPC) - IFSTTAR - Université Paris Est (UPE) Institut P' ; Université de Poitiers Centre de recherche sur les Ions, les MAtériaux et la Photonique (CIMAP - UMR 6252) ; CNRS - CEA - Université de Caen Basse-Normandie - Ecole Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen Laboratoire d'acoustique de l'université du Maine (LAUM) ; CNRS - Université du Maine Institut Clément Ader (ICA) ; Université Paul Sabatier (UPS) - Toulouse III - Institut National des Sciences Appliquées [INSA] - Institut supérieur de l'aéronautique et de l'espace [ISAE] - École nationale supérieure des Mines d'Albi-Carmaux Laboratoire de Mécanique et Ingénieries (LAMI) ; Université Blaise Pascal - Clermont-Ferrand II - Institut Français de Mécanique Avancée Thermomécanique des matériaux ; Laboratoire de mécanique et génie civil (LMGC) ; CNRS - Université Montpellier II - Sciences et techniques - CNRS - Université Montpellier II - Sciences et techniques - Laboratoire de micromécanique et intégrité des structures (MIST) ; CNRS - Institut de Radioprotection et de Sûreté Nucléaire (IRSN) - Institut de Radioprotection et de Sûreté Nucléaire (IRSN) Bornert, Michel Doumalin, Pascal Dupré, Jean-Christophe Poilâne, Christophe ROBERT, Laurent Toussaint, Évelyne Wattrisse, Bertrand Multi-échelle ; Laboratoire de mécanique des solides (LMS) ; CNRS - Polytechnique - X - MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris - CNRS - Polytechnique - X - MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris - Laboratoire Navier (NAVIER) ; CNRS - École des Ponts ParisTech (ENPC) - IFSTTAR - Université Paris Est (UPE) - CNRS - École des Ponts ParisTech (ENPC) - IFSTTAR - Université Paris Est (UPE) Institut P' ; Université de Poitiers Centre de recherche sur les Ions, les MAtériaux et la Photonique (CIMAP - UMR 6252) ; CNRS - CEA - Université de Caen Basse-Normandie - Ecole Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen Laboratoire d'acoustique de l'université du Maine (LAUM) ; CNRS - Université du Maine Institut Clément Ader (ICA) ; Université Paul Sabatier (UPS) - Toulouse III - Institut National des Sciences Appliquées [INSA] - Institut supérieur de l'aéronautique et de l'espace [ISAE] - École nationale supérieure des Mines d'Albi-Carmaux Laboratoire de Mécanique et Ingénieries (LAMI) ; Université Blaise Pascal - Clermont-Ferrand II - Institut Français de Mécanique Avancée Thermomécanique des matériaux ; Laboratoire de mécanique et génie civil (LMGC) ; CNRS - Université Montpellier II - Sciences et techniques - CNRS - Université Montpellier II - Sciences et techniques - Laboratoire de micromécanique et intégrité des structures (MIST) ; CNRS - Institut de Radioprotection et de Sûreté Nucléaire (IRSN) - Institut de Radioprotection et de Sûreté Nucléaire (IRSN) Bornert, Michel Doumalin, Pascal Dupré, Jean-Christophe Poilâne, Christophe ROBERT, Laurent Toussaint, Évelyne Wattrisse, Bertrand
Source :
ICEM15; ICEM15, Jul 2012, Porto, Portugal. 4 p
Abstract
International audience<br />In order to characterise the ultimate error regime of Digital Image Correlation (DIC) algorithms, sets of virtual transformed images are often generated from a reference image by in-plane sub-pixel translations. This leads to the determination of the well-known S-shaped systematic error curves and their corresponding random error curves. It is reported in this collaborative work that the a priori choices used to numerically shift images (grey level interpolation, direct or reverse transformation between images) modify DIC results and may lead to biased conclusions in terms of DIC errors.
Details
Database :
OAIster
Journal :
ICEM15; ICEM15, Jul 2012, Porto, Portugal. 4 p
Notes :
Porto, Portugal, ICEM15, English
Publication Type :
Electronic Resource
Accession number :
edsoai.ocn892978424
Document Type :
Electronic Resource