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Espectros de emisión de radioluminiscencia y termoluminiscencia de una leucita de Monte Somma (Italia)

Authors :
Comisión Interministerial de Ciencia y Tecnología, CICYT (España)
Valle Fuentes, Francisco José
García-Guinea, Javier
Correcher, Virgilio
Comisión Interministerial de Ciencia y Tecnología, CICYT (España)
Valle Fuentes, Francisco José
García-Guinea, Javier
Correcher, Virgilio
Publication Year :
2004

Abstract

[ES] La leucita natural (KAlSi2O6), materia prima para la fabricación de cerámicas dentales, es un material potencialmente válido para su utilización con fines dosimétricos ya que su respuesta luminiscente (radioluminiscencia -RL- y termoluminiscencia -TL-) en la región espectral del visible (200-800nm) es similar a la de otros aluminosilicatos utilizados también con fines dosimétricos. A pesar de la complejidad de las curvas, los espectros de emisión de TL y RL obtenidos con una leucita del Monte Somma (Nápoles, Italia) se pueden ajustar a un número máximo de seis funciones gaussianas situadas a 300, 380, 430, 480, 550 y 680 nm con significado físico. Este ajuste indica que en ambos procesos las trampas electrónicas que intervienen tienen el mismo origen. El análisis químico realizado por Fluorescencia de Rayos X (FRX) de la leucita estudiada permite intentar vincular el contenido de impurezas presentes en la red cristalina del material con las bandas de emisión que se producen como consecuencia de las distorsiones estructurales que se generan en la red cristalográfica formada por los tetraedros de SiO4 y [AlO4].<br />[EN] Natural leucite (KAlSi2O6), one of the main components of dental ceramics, shows similar radioluminescence (RL) and thermoluminescence (TL) response than other aluminosilicates (in the 200-800nm region) employed for dosimetric purposes. Despite the complex structure of the emission spectra, both glow curves can be fitted to six gaussian functions peaked at 300, 380, 430, 480, 550 and 680nm. We infer that the involved electronic traps are of the same origin regardless of the luminescence process. The chemical analysis performed by X-ray fluorescence (XRF) allows us to seek relationships between the content of the impurities of the crystal lattice and the emission bands.

Details

Database :
OAIster
Notes :
Spanish
Publication Type :
Electronic Resource
Accession number :
edsoai.on1103338728
Document Type :
Electronic Resource