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4 results on '"Hole, S."'

1. Electric Charge Measurements in Electronic Components: Contribution of Non-destructive Thermal Stimuli Methods

Author

Baudon, S., Notingher, P., Hole, S., Agnel, S., Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Groupe énergie et matériaux (GEM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Eric, Dauverchain

Subjects
[SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Abstract

International audience

Published
2014

2. Toward non destructive high resolution thermal methods for electric charge measurements in solid dielectrics and components

Author

Notingher, P., Hole, S., Baudon, S., Fuchier, O., Boyer, L., Agnel, S., Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Groupe énergie et matériaux (GEM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire des Instruments et Systèmes d'Ile de France (LISIF), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC), and Eric, Dauverchain

Subjects
[SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Abstract

International audience

Published
2012

3. Towards Non-destructive High Resolution Thermal Methods for Electric Charge Measurements in Solid Dielectrics and Components

Author

Notingher, P., Hole, S., Baudon, S., Fruchier, O., Boyer, L., Agnel, S., Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Groupe énergie et matériaux (GEM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Eric, Dauverchain

Subjects
[SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Abstract

International audience

Published
2012

4. Non-destructive electric charge measurements in microelectronic components : state of the art and future trends

Author

Notingher, P., Hole, S., Fruchier, O., Salamé, B., Baudon, S., Dahger, G., Boyer, L., Agnel, S., Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Groupe énergie et matériaux (GEM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire des Instruments et Systèmes d'Ile de France (LISIF), and Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Abstract

International audience

Published
2012

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