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4. Sb-HEMT: toward 100-mV cryogenic electronics

7. Microwave characterization of tunable interdigitated capacitors on BTS thin films deposited by sol-gel

8. Extraction des performances AC et bruit HF d'une technologie CMOS 45 nm en gamme mmW

9. Optimisation des performances à faible tension de polarisation de HEMTs de la filière antimoine

10. Bias point optimization for low power/low noise applications of advanced SiGe HBT

11. [Invited] On-wafer S-parameters and noise measurements from D to J-band

12. Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up

13. 325 GHz CPW band pass filter integrated in advanced HR SOI RF CMOS technology

14. Potentialités de la technologie CMOS 65nm sur substrat SOI haute résistivité pour les applications millimétriques : amplificateur faible bruit et antenne intégrés sur un même substrat

15. Mesures de bruit en gamme millimétrique : limitations et solutions

16. S-parameters measurements and small signal modeling of sub-65nm silicon MOSFETs up to 220 GHz

18. Erreurs de mesures liées à l'environnement des composants silicium RF « on-wafer » en bande millimétrique

22. 100mV noise performances of Te-doped Sb-HEMT

30. 480-GHz f\max in InP/GaAsSb/InP DHBT With New Base Isolation \mu-Airbridge Design.

31. Potentiality of commercial metamorphic HEMT at cryogenic temperature and low voltage operation

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Books, media, physical & digital resources