1. Localization of 1/f noise sources in Si/SiGe:C HBTs
- Author
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Seif, Marcelino, Pascal, Fabien, Sagnes, Bruno, Elbeyrouthy, J., Hoffmann, Alain, Haendler, S., Chevalier, Pascal, Gloria, Daniel, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Micro électronique, Composants, Systèmes, Efficacité Energétique (M@CSEE), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), and STMicroelectronics
- Subjects
[SPI]Engineering Sciences [physics] ,[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ,ComputingMilieux_MISCELLANEOUS - Abstract
International audience
- Published
- 2018